Ứng dụng của loạt APM SP-1U/ST trong cầu chì TES

Cầu chì đóng một vai trò bảo vệ rất quan trọng trong các mạch của các thiết bị điện tử. Chúng được phân loại thành nhiều loại theo môi trường sử dụng của chúng, chẳng hạn như cầu chì dùng một lần, cầu chì có thể tái định cư, cầu chì nhiệt loại chip, cầu chì nhiệt kim loại, cầu chì nhựa mini và cầu chì chống nổ chính xác nhỏ với bao bì khác nhau. Theo các loại cầu chì khác nhau, chúng có thể được áp dụng cho môi trường làm việc điện áp cao và thấp.

Việc lựa chọn chính xác các cầu chì đóng vai trò không thể thiếu trong việc đảm bảo sử dụng an toàn thiết bị điện tử và nguồn điện. Do đó, điều quan trọng là phải thực hiện thử nghiệm hiệu suất nghiêm ngặt trên cầu chì.

Dưới đây là hệ thống kiểm tra cầu chì được APM tùy chỉnh cho khách hàng

Mạch này hoạt động thông qua kết nối cáp đơn giản.

Hệ thống thử nghiệm này bao gồm bốn nguồn cung cấp năng lượng và phần mềm thử nghiệm, như được hiển thị trong hình, với phạm vi hiện tại từ 100mA đến 360A. Dut (thiết bị được thử nghiệm) có thể được đặt trên nền tảng thử nghiệm và có dây dễ dàng và nhanh chóng. Hệ thống thử nghiệm có thể đo thời gian thổi cầu chì cần thiết của cầu chì, cung cấp cơ sở đo thực tế để chọn cầu chì cho thiết bị điện. Tùy thuộc vào các yêu cầu thử nghiệm, hệ thống cũng có thể đạt được sự kết hợp giữa nguồn năng lượng và tải để cải thiện tốc độ tăng của dòng điện, độ chính xác của thời gian thổi cầu chì và độ chính xác của dữ liệu thử nghiệm.

Đầu ra ổn định của nguồn điện kết hợp với phần mềm giám sát này cho phép điều khiển giao tiếp từ xa thuận tiện hơn. Bốn kênh có thể chạy độc lập mà không ảnh hưởng đến nhau và hệ thống có thể theo dõi điện áp thời gian thực, giá trị đo hiện tại, thời gian thử nghiệm, trạng thái cấp nguồn và trạng thái thổi cầu chì. Nhiều bộ giá trị hiện tại có thể được đặt để đạt được đầu ra theo chu kỳ của các dạng sóng hiện tại. Dữ liệu thử nghiệm có thể được ghi lại trong nền theo nhu cầu, bao gồm các giá trị điện áp, giá trị hiện tại, trạng thái cấp nguồn, trạng thái cầu chì và thời gian lão hóa để so sánh dữ liệu Trong các môi trường thử nghiệm khác nhau.